近日，美国国家标准与技术研究院（NIST）展示了他们研发的用于太赫兹频率梳测量的超宽带光电子混频技术，该技术使用经过改进的高速单向载波（MUTC）光电二极管提供高达500GHz的重复频率的相位相干检测。光电二极管本身的非线性光电子效应使电梳的谐波产生和下混过程具有显著不同的重复频率。具体来说，研究过程中生成了两个25GHz的频率梳，并使用光学滤波器来探索微波、毫米波和太赫兹频率范围内的频率梳光谱分量到基带的相干下混频。光电子混频器出色的噪声抑制性能使毫米波和太赫兹频率梳的相位相干测量成为可能，其测量时间为 τ，而艾伦偏差为 10^-13/τ。NIST进一步研究了转换损耗对反向偏置电压和光电流的依赖程度。实验结果表明，通过在最佳电压和最大可用光电流下运行光电二极管，可以将转换损耗降至最低。这项研究为毫米波和太赫兹频率梳的测量提供了一种解决方案，并有助于实现具有微共振器的完全稳定的频率梳。
该项研究的成果已发表在《Optics Letters》期刊上。（DOI：10.1364/OL.557366）
