基础科学研究所(IBS)的纳米结构物理中心的研究人员已经表明,单层二硫化钼(MoS2)的缺陷表现出电学转换,为这种材料的电学性质提供了新的见解。由于二硫化钼是最有前途的2D半导体之一,预计这些结果将有助于其未来在光电子中的应用。
在IBS中,物理学家,材料科学家和电子工程师团队紧密合作,利用原子力显微镜(AFM)和噪声分析相结合,研究MoS2单层中硫空位的电子性质。科学家使用金属AFM尖端来测量噪声信号,即通过放置在金属基底上的单层MoS2的电流变化。
“这项研究开辟了开发新的噪声纳米光谱设备的可能性,该设备能够在2D材料的广泛区域上绘制纳米尺度上的一个或多个缺陷。”相关作者Young Hee Lee总结说。