《天津大学封伟团队:新型半导体二维原子晶体锗硅烷材料的带隙调控》

  • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
  • 编译者: 冯瑞华
  • 发布时间:2020-03-24
  • 新型二维半导体原子晶体兼具原子级厚度、纳米级层状结构、极高的载流子迁移率,是构建未来高性能纳米光电器件的核心材料。带隙是二维半导体电子器件和光电子光器件中最重要的基本参数之一,是影响二维半导体电子器件开关比和光电器件的光电流响应的重要因素之一。因此,精确调控二维半导体原子晶体的能带结构是提高器件性能的重要方法。例如:石墨烯是零带隙纳米半导体,通过掺杂、修饰和图案化设计可以打开其禁带结构,但带隙调控范围受限(< 1.0 eV);g-C 3 N 4 的禁带宽度可达2.7 eV,通过掺杂可部分降低其带隙结构(~1.9 eV);以MoS 2 和WS 2 为代表的过渡金属硫族化合物只有单层结构是直接带隙半导体,而双层和多层是间接半导体,通过元素掺杂可改变其带隙,但调控范围受其自身结构限制(< 2.1 eV)。

    由此可见,通过控制并优化二维半导体原子晶体的结构,实现其带隙调控,是未来纳米半导体材料重要的研究方向。 成果简介 近日,天津大学封伟教授团队通过理论计算与结构设计,合成了-H/-OH封端的二元锗硅烯(siligene),并命名为锗硅烷(gersiloxene)。通过控制锗硅元素含量,获得了具有不同化学和晶体结构的锗硅烷,首次实现了锗和硅基二元二维材料的带隙调控,兼具适宜带隙结构、高比表面积和表面化学活性的二维锗硅烷可作为光催化剂,实现了常温下光催化高效产氢,同时显著提高了光催化CO 2 还原能力。 缺少层状体相材料是制备二维锗基和硅基半导体材料的重要难点。针对该难点,团队通过直接氢化Zintl相CaGe 2 和CaSi 2 结合拓扑化学反应,分别制备了具有二维层状结构的锗烷(GeH)和硅烷(SiH)。在此基础上通过控制钙(Ca)、锗(Ge)和硅(Si)单质的化学计量比,通过高温烧结制备了前驱体Ca(Ge 1-x Si x ) 2 合金,再将驱体Ca(Ge 1-x Si x ) 2 合金进行低温(-30℃)浓盐酸插层反应,最终获得一系列不同化学结构的二维锗硅烷。结构表征显示二维锗硅烷是由氢封端的Ge原子与氢(-H)或羟基(-OH)封端的Si原子以二元合金的形式构成的蜂窝网状结构二维材料。同时二维锗硅烷的化学结构与Ge和Si比例密切相关,当 x < 0.5时,材料中分别形成Ge-H和Si-OH化学键,锗硅烷表现为(GeH) 1- x (SiOH) x ;当 x ≥ 0.5时,材料中又出现了Si-H化学键,因此锗硅烷的结构为(GeH) 1- x Si x (OH) 0.5 H x -0.5 。 在此基础上,构建了锗硅烷的理论模型,基于密度泛函理论的第一性原理计算结果表明,二维锗硅烷和体相材料均为直接带隙半导体,与过渡金属硫族化合物不同,其带隙类型既不依赖锗硅烷的片层数,也与锗硅烷中Ge和Si元素的比例无关,其带隙结构随 x 的升高而增加。光学带隙测试结果显示当 x 从 0.1提高到0.9时,二维锗硅烷的带隙从1.8 eV提升到2.57 eV,该结果与理论计算结果相吻合。 二维锗硅烷兼具可调控能带结构、宽光谱(从紫外区到可见光区)响应,同时其能带结构适应于不同复杂条件下的光催化产氢和CO 2 还原,研究显示,当 x = 0.5时,二维锗硅烷(HGeSiOH)表现出最优异的光催化性能,在光催化水还原中可以以1.58 mmol g -1 h -1 的速率生成H 2 ,还可以催化还原CO 2 ,以6.91 mmol g -1 h -1 的速率生成CO,该性能高于目前报道的光催化剂,这些研究结果表明具有带隙可调性能的二维锗硅烷在光催化产氢和CO 2 还原上具有巨大的应用潜力。 二维锗硅烷是未来制备纳米能量转换器件和纳米光电器件的理想材料之一。

    该研究首次实现了掺杂精确调控锗硅类IVA族二维原子晶体半导体的能带结构,将为未来新型半导体二维原子晶体材料的合成、设计、电子结构调控以及光电性能提升提供重要的材料基础和技术支撑。 该工作近期以“Two-dimensional gersiloxenes with tunable bandgap for photocatalytic H 2 evolution and CO 2 photoreduction to CO”为题发表在期刊 Nature Communications。

相关报告
  • 《天津大学封伟团队在带隙可调的新型锗硅基半导体二维原子晶体研究上取得突破》

    • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
    • 编译者:冯瑞华
    • 发布时间:2020-03-26
    • 天津大学封伟教授团队在半导体二维原子晶体的可控制备和带隙调控研究上取得重要突破:在理论计算和结构设计的基础上,采用-H/-OH封端二元锗硅烯,首次获得了具有带隙可调控的二维层状锗硅烷(gersiloxene)。通过精确控制二元配比,实现了二维锗硅烷的带隙调控,并探索了其光催化领域的应用价值,为后续设计新型半导体二维原子晶体提供了重要的研究基础。相关研究成果在线发表于《自然·通讯》(Nature Communications)上,文章题为“Two-dimensional gersiloxenes with tunable bandgap for photocatalytic H2evolution and CO2photoreduction to CO”(DOI: 10.1038/s41467-020-15262-4)。文章第一作者为天津大学材料学院博士研究生赵付来,通讯作者为封伟教授,共同通讯作者为冯奕钰教授。 与石墨烯同族元素的二维锗烯和硅烯半导体晶体,虽然具有极高的理论载流子迁移率和独特的sp2-sp3杂化键,但是精确制备并调控其能带结构仍然是该领域重要的难点。由于不存在类似于石墨的层状体相结构,无法通过直接剥离法制备二维锗烯和硅烯半导体晶体,导致难以实现其层状结构的精确控制;更为重要的是锗烯和硅烯的零带隙特征限制了其在场效应晶体管、光电晶体管和光催化领域的应用。 氢化和合金化是调控二维半导体晶体带隙结构的两种重要途径。近年来研究表明,由于Zintl相的CaGe2和CaSi2中存在着类似于石墨烯的Ge或Si的六元蜂窝状结构,因此通过Zintl相晶体CaGe2和CaSi2的拓扑化学反应(去除Ca离子),可以直接制备得到氢化的锗烯和硅烯,即锗烷(GeH)和硅烷(SiH),但是通过可控掺杂实现锗烷和硅烷的带隙调控仍然鲜有报道。针对该难点,封伟团队通过对CaGe2进行Si掺杂,制备了具有精确配比的Ca(Ge1-xSix)2(x = 0.1-0.9)合金,通过拓扑插层反应实现了-H/-OH封端,获得了具有一系列不同掺杂比例的蜂窝状二维锗硅烷合金。晶体结构模型的理论计算结果表明二维锗硅烷为直接带隙半导体材料,其带隙类型不依赖于层数和Si掺杂的比例。如图1所示,通过控制Si元素的掺杂量(x值)可以实现带隙结构的精确调控,结果显示二维锗硅烷的带隙随掺杂量的增加而提高,当x从0.1提高到0.9时,二维锗硅烷的带隙从1.8提升到2.57 eV。 二维锗硅烷兼具可调控能带结构、宽光谱(从紫外区到可见光区)响应和优异的光催化性能,是未来制备纳米光电器件的理想材料之一。该研究首次实现了掺杂精确调控锗硅类IVA族二维原子晶体半导体的能带结构,将为未来新型半导体二维原子晶体材料的合成、设计、电子结构调控以及光电性能提升提供重要的材料基础和技术支撑。
  • 《天津大学Nanoscale:新型二维材料α-GeTe:具有铁离子敏感性》

    • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
    • 编译者:冯瑞华
    • 发布时间:2018-06-07
    • 自2004年石墨烯发现以来,二维材料越来越引起人们的关注,过渡金属硫族化合物(TMDs)、黑磷、硅烯、锗烯、砷烯等类石墨烯二维材料的发现极大地丰富了二维材料的种类。但是现存的这些二维材料都存在一些缺点,比如,石墨烯是零带隙的半导体材料,黑磷在空气中不能稳定存在,因此对新型二维材料的探索研究具有很大的价值。α-GeTe能够实现结晶与无定型的可逆相转变,通常作为相变存储器来研究,同时,值得注意的是α-GeTe也是一种具有层状结构的窄带隙半导体材料,载流子密度高达1021 cm-3。根据文献报道,对纳米尺度的α-GeTe已经有了一定的研究基础,但是对于α-GeTe的二维半导体性质还没有过报道,因此,对于二维α-GeTe的研究具有非常重要的价值和创新性。 成果简介 近日,天津大学材料科学与工程学院封伟教授课题组在Nanoscale上发表最新研究成果:“Sonication-Assisted Liquid-Phase Exfoliated α-GeTe: A Two-Dimensional Material with high Fe3+ Sensitivity”。本文通过理论计算的方法证明了单层α-GeTe是热力学稳定的间接带隙半导体材料,而且在紫外光区有吸收。首次通过超声辅助液相剥离法制备了少层甚至单层的α-GeTe纳米片。原子力显微镜(AFM)表征证明了液相法剥离得到的单层α-GeTe的厚度为1.6 nm,紫外吸收光谱证明了单层α-GeTe的光学带隙为1.93 eV,与理论计算值较为接近。通过荧光光谱证明了α-GeTe纳米片对铁离子具有较好的选择性,可用于铁离子的检测。该项研究是在国家重点研发项目和国家自然科学基金项目的支持下完成的。文章的第一作者是硕士研究生张盼盼同学。 该研究从理论和实验两个方面证明了α-GeTe是一种具有间接带隙的半导体材料,其理论带隙为1.82 eV。实验证明,α-GeTe体材料可以剥离成少层的α-GeTe纳米片,所得到得α-GeTe纳米片具有良好的结晶性,其光学带隙为1.93 eV。另外,材料在紫外光区有吸收,可在紫外光(370 nm)的激发下发射出433 nm的蓝光,可用于铁离子的检测。该研究发现了种新型的二维材料,进一步丰富了二维材料家族,对进一步探索新型二维的种类和独特性质具有十分重要的意义。 文章链接:Sonication-Assisted Liquid-Phase Exfoliated α-GeTe: A Two-Dimensional Material with high Fe3+ Sensitivity. (Nanoscale,2018,DOI: 10.1039/C8NR03091J).