在过去几年中,工业4.0一直是制造商关注的重点,各组织收集和存储了大量的制造和产品数据,以通过分析这些数据来提高产量和质量等关键性能指标(KPI)。ML是一种利用所有收集的工具和产品数据的优秀技术,而不需要额外的基础设施,这可能会降低采用速度或提高实施成本。
ML模型可以通过提供单个工艺步骤产生的关键测量的实时预测,对半导体代工厂或IDM非常有益。工艺工程师和技术人员花费大量时间监控工艺设备,以确保其正常运行,然后将一定比例的产品发送至物理计量工具,以验证工艺步骤结果。从历史上看,在每个工艺步骤中评估每个晶片是不现实的,因为计量工具的操作需要花费时间和金钱。制造厂还必须确信计量采样率能够识别制造过程中可能影响产品产量或质量的偏差或异常。ML可以通过同时降低物理计量采样率(节省资金和时间),同时为每个单个制造零件提供完整的覆盖范围(验证工艺步骤是否按预期执行)来改变这种动态。
ML可以通过将“虚拟计量”应用于任何工艺步骤(如蚀刻、光刻或CMP)来实现这一点。假设ML算法(或模型)是精心设计和实现的,它可以与工厂车间的工艺设备在线实时运行。利用制造厂MES(制造执行系统)和SPC(统计过程控制)系统已经收集的数据,ML模型可以随时获得计算和预测正在制造的产品的任何计量测量结果所需的所有数据。通过专注于预测各个流程步骤的结果,ML模型不需要也不依赖于复杂的大数据分析基础设施。正确架构的ML模型可以是不可知的,并且可以与工厂内的任何现有环境互补,使它们相对快速且易于实现。以这种方式实施虚拟计量的好处是,由于所有产品都通过虚拟计量进行验证,因此物理计量与100%的工艺步骤质量可视性相结合,大大减少了采样。
此外,由于ML模型预测100%产品的计量结果,因此也可以更快地识别偏差,因为ML模型与工艺步骤在线实时运行。在极少数重大偏移的情况下,快速识别这些偏移而不是等待数小时甚至数天才能检测,可以显著降低成本,避免报废不良晶片以及在偏移检测之前生产的产品上花费的不必要的制造时间和材料。为虚拟计量实施ML模型的最终好处是减少了工程师在监测设备和查找异常根源方面花费的时间和精力。