近日，日本产业技术综合研究所（以下简称“产总研”）物质测量标准研究部门纳米材料结构分析研究小组白泽彻郎高级主任研究员、国立大学法人东京学艺大学教育学部Voegeli Wolfgang准教授及荒川悦雄教授，利用由放射光X射线产生的虹色X射线（波长分散聚焦X射线），开发了同时高速测量X射线散射和X射线吸收光谱的技术。
通过该技术的开发，成功地同时获得了左右纳米材料功能的纳米级结构（粒子的尺寸和形状），以及原子级结构（原子间距离、配位数、化学状态）的信息。
利用这项技术，可以观察到从原子尺度到纳米尺度的多个信息之间的相关性，这在以往的个别测量中是困难的，通过将其结果与功能信息进行对照，可以详细了解结构和功能的因果关系。将这些信息运用到多模态分析中，对纳米材料的功能进行最大化的结构和新功能的预测，可以期待对材料开发的革新做出贡献。
另外，该技术的详细内容于2024年6月25日在线刊登在英国《Physical Chemistry Chemical Physics》期刊上（DOI：https://doi.org/10.1039/D4CP01399A）。
