美国的宜普电源转换公司（EPC）已公布其第十阶段可靠性报告，测试结果是通过汽车AEC-Q101认证。AEC-Q101要求功率FET符合最高的可靠性标准，不仅要求数据表零故障，还要求压力测试期间的参数漂移低。EPC采用的的晶圆级芯片级规模封装（WLCS）符合传统封装部件的测试标准，并且卓越的芯片级封装性能不会损害器件的稳定性或可靠性。
该报告还讨论了超出AEC-Q101标准的可靠性测试，以深入了解可能导致设备故障的各种机制。报告内的一个部分阐析在硬开关时，测试极端的动态导通阻抗。测试结果显示，氮化镓(eGaN)器件在长期、不间断的开关情况下，仍然可以稳定地工作。
第三部分扩展了EPC第六阶段可靠性测试报告中的加速压力测试。除了连续监视栅极泄漏之外，还会定期记录其他器件参数（VTH和IDSS）。这种数据可以更全面地了解器件在高栅极应力条件下劣化的情况，从而可观的 了解多个独立物理故障机制。测试表明，eGaN FET栅极非常坚固可靠。
首席执行官兼联合创始人Alex Lidow博士说：“eGaN器件已经批量生产超过9年，并且在实验室测试和客户反馈中表现出非常高的可靠性，例如自动驾驶汽车，4G基站和卫星的LiDAR 等。EPC公司的第十阶段可靠性测试报告丰富了之前的九份可靠性测试报告所构建的知识库，并代表我们继续承诺持续对氮化镓技术进行研究、学习及分享氮化镓技术可靠性的的信息。”
