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《日本产业技术综合研究所（AIST）开发可通用测量功率设备S参数的系统，可轻松评估功率器件的高频特性》

  • 编译者： 李晓萌
  • 发布时间：2025-05-09

  • 近日，日本产业技术综合研究所（AIST）物理计量标准研究部门主任研究员岸川谅子、研究战略企划部副部长堀部雅弘，与株式会社テクノプローブ（Technoprobe）、Keysight Technologies, Inc.合作，开发了一种系统，能够通用评估具有各种电极形状的表面安装功率器件的高频特性。

    功率器件是一种半导体器件，通过高速开关大电流来高效地转换和控制电力，在电动汽车、铁路、太阳能发电、家用电器等多个领域得到广泛应用。在高开关频率下运行功率器件，可以实现功率器件、电感器、电容器等的小型化，最终有望实现系统的小型化和轻量化。为了设计在高开关频率下运行的电路，S参数的信息非常有用，它能表示高频信号的反射和传输特性。

    此次，AIST、Technoprobe和Keysight开发了一种探针和探针台，可以将同轴结构转换为表面安装功率器件的平面电极形状。开发的探针支持多种电极形状，可测量50 kHz至1 GHz的S参数。S参数测量变得更加简便和经济，有望为开发小型轻量的高开关频率功率电子系统做出贡献。

    该技术的详细信息在2025年3月16日至20日在美国举行的IEEE应用电力电子会议及展览上公布，同时，开发的探针和探针台将开始在日本由Technoprobe销售，在海外由T Plus Co. Ltd.销售。

    下一步，为了能够测量更多种类的功率器件，AIST将继续改进探针和探针台。此次开发的探针适用于接地芯片与信号芯片间距为3.7毫米的情况，同时AIST也能根据需要制作不同芯片间距的探针。这将使得使用探针对更多种类的功率器件进行S参数测量成为可能。在此基础上，AIST致力于为有望实现高频运行的氮化镓功率器件等的研发做出贡献。

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