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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
EISBN：
9781461502159
PISBN：
9781461349693
出版社：
Springer US
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2003
版次：
Third Edition
作者：
Joseph I. Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles E. Lyman,Eric Lifshin,Linda Sawyer,Joseph R. Michael
主题词：
Characterization and Evaluation of Materials,Biological Microscopy,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Nanotechnology
语种：
英语
所属数据库：
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9781475790276
出版社：
Springer US
出版时间：
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9781475790276
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出版时间：
1986
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作者：
Joseph Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles Fiori,Eric Lifshin
EISBN：
9781461332732
出版社：
Springer US
出版时间：
1981
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