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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
EISBN：9781475790276
PISBN：9781475790290
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：1986
作者：Dale E. Newbury,David C. Joy,Patrick Echlin,Charles E. Fiori,Joseph I. Goldstein
主题词：Pathology,Characterization and Evaluation of Materials
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书
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