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Thermal Testing of Integrated Circuits
EISBN：
9781475736359
PISBN：
9781402070761
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2002
版次：
2002
作者：
J. Altet,Antonio Rubio
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
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