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Thermal Testing of Integrated Circuits
EISBN：
9781475736359
PISBN：
9781441952875
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2002
作者：
Josep Altet,Antonio Rubio
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering,Manufacturing,Machines,Tools
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
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