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Point Defects in Semiconductors II
EISBN：
9783642818325
PISBN：
9783642818349
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Monograph
出版时间：
1983
作者：
Jacques Bourgoin,Michel Lannoo
主题词：
Crystallography
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Solid-State Sciences
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