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Point and Extended Defects in Semiconductors
EISBN：
9781468457094
PISBN：
9781468457117
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1989
作者：
G. Benedek,A. Cavallini,W. Schröter
主题词：
Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
NATO ASI Series
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