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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
EISBN：
9783709105979
PISBN：
9783211206874
出版社：
Springer Vienna
出版类型：
Monograph
出版时间：
2004
版次：
2004
作者：
Peter Pichler
主题词：
Engineering,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy,Optical and Electronic Materials
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Computational Microelectronics
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Springer US
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9781468429701
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Springer US
出版时间：
1972
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