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Defects and Impurities in Silicon Materials
EISBN：
9784431558002
PISBN：
9784431557999
出版社：
Springer Japan
出版类型：
Monograph
出版时间：
2015
版次：
1st ed. 2015
作者：
Yutaka Yoshida,Guido Langouche
主题词：
Semiconductors,Nanotechnology,Materials Engineering,Nanotechnology and Microengineering,Solid State Physics,Nanoscale Science and Technology
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Lecture Notes in Physics
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