Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines

EISBN:9789048123605
PISBN:9789048123599
出版社:Springer Netherlands
出版类型:Monograph
出版时间:2009
作者:Rolf Drechsler,Stephan Eggersglüβ,Görschwin Fey,Daniel Tille
主题词:Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种:英语
所属数据库:SpringerLink电子图书
相关推荐

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

  • 作者:Stephan Eggersglüß,Rolf Drechsler
  • EISBN:9781441999764
  • 出版社:Springer US
  • 出版时间:2012

Analog Test Signal Generation Using Periodic ΣΔ-Encoded Data Streams

  • 作者:Benoit Dufort,Gordon W. Roberts
  • EISBN:9781461543770
  • 出版社:Springer US
  • 出版时间:2000

Analog Test Signal Generation Using Periodic ΣΔ-Encoded Data Streams

  • 作者:Benoit Dufort,G.W. Roberts
  • EISBN:9781461543770
  • 出版社:Springer US
  • 出版时间:2000

An Artificial Intelligence Approach to Test Generation

  • 作者:Narinder Singh
  • EISBN:9781461319795
  • 出版社:Springer US
  • 出版时间:1987

Automatic Generation of Combinatorial Test Data

  • 作者:Jian Zhang,Zhiqiang Zhang,Feifei Ma
  • EISBN:9783662434291
  • 出版社:Springer Berlin Heidelberg
  • 出版时间:2014

An Artificial Intelligence Approach to Test Generation

  • 作者:Narinder Singh
  • EISBN:9781461319795
  • 出版社:Springer US
  • 出版时间:1987