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Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
EISBN：
9780387757285
PISBN：
9780387764863
出版社：
Springer US
出版类型：
Monograph
出版时间：
2008
作者：
Mohammad Tehranipoor,Nisar Ahmed
主题词：
Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Nanotechnology,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
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