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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
EISBN：
9781461407881
PISBN：
9781461407874
出版社：
Springer US
出版类型：
Monograph
出版时间：
2012
作者：
Ruijing Shen,Sheldon X.-D. Tan,Hao Yu
主题词：
Circuits and Systems,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Nanotechnology and Microengineering
语种：
英语
所属数据库：
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