登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
Surface Defects in Wide-Bandgap LiF, SiO2, and ZnO Crystals
EISBN：
9783031588501
PISBN：
9783031588495
出版社：
Springer Nature
出版时间：
2024
作者：
Utkirjon Sharopov
主题词：
BISAC Category: Science,Physics,Condensed Matter,Technology & Engineering,Electronics,Semiconductors,Technology & Engineering,Materials Science,Thin Films, Surfaces & Interfaces
学科：
O6 ( O 数理科学和化学,O6 化学 )
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
SpringerBriefs in Materials
2浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
作者：
G. Pacchioni,L. Skuja,D. L. Griscom
EISBN：
9789401009447
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
2000
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
作者：
Gianfranco Pacchioni,Linards Skuja,David L. Griscom
EISBN：
9789401009447
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
2000
The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface
作者：
B.E. Deal,C.R. Helms
EISBN：
9781489907745
出版社：
Springer US
出版时间：
1988
The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface
作者：
C. Robert Helms,Bruce E. Deal
EISBN：
9781489907745
出版社：
Springer US
出版时间：
1988
The Physics and Technology of Amorphous SiO2
作者：
Roderick A.B. Devine
EISBN：
9781461310310
出版社：
Springer US
出版时间：
1988
The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2
作者：
C. Robert Helms,Bruce E. Deal
EISBN：
9781489915887
出版社：
Springer US
出版时间：
1993
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位