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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
EISBN：
9789401009447
PISBN：
9780792366850
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2000
版次：
2000
作者：
Gianfranco Pacchioni,Linards Skuja,David L. Griscom
主题词：
Materials Science,Characterization and Evaluation of Materials,Condensed Matter Physics
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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9789401009447
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出版时间：
2000
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Roderick A.B. Devine
EISBN：
9781461310310
出版社：
Springer US
出版时间：
1988
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Roderick A. B. Devine
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