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Nanobeam X-Ray Scattering - Probing Matter at the Nanoscale
PISBN：
9783527655069
出版社：
John Wiley & Sons, Inc
出版时间：
2013
作者：
Stangl
主题词：
Physical Sciences & Engineering
语种：
英语
所属数据库：
Wiley电子图书
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