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Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
EISBN：
9781475711264
PISBN：
9780306406287
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1980
版次：
1980
作者：
B.K. Tanner
主题词：
Physics,Crystallography and Scattering Methods
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Nato Science Series B:
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