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Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research
EISBN：
9789401144513
PISBN：
9780792359395
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1999
版次：
1999
作者：
David G. Rickerby,Giovanni Valdrè,Ugo Valdrè
主题词：
Materials Science,Characterization and Evaluation of Materials,Physical Chemistry,Condensed Matter Physics,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Inorganic Chemistry
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Nato Science Series E:
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作者：
David G. Rickerby,Giovanni Valdrè,Ugo Valdrè
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9789401144513
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Springer Netherlands
出版时间：
1999
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EISBN：
9781441971678
出版社：
Springer New York
出版时间：
2011
Scanning Probe Microscopy
作者：
Roland Wiesendanger
EISBN：
9783662036068
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
1998
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EISBN：
9783662098011
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
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作者：
Roland Wiesendanger
EISBN：
9783662036068
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
1998
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EISBN：
9780387372310
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Springer New York
出版时间：
2006
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