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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems
EISBN：
9781441962171
PISBN：
9781441962164
出版社：
Springer New York
出版类型：
Monograph
出版时间：
2011
作者：
Miloš Stanisavljević,Alexandre Schmid,Yusuf Leblebici
主题词：
Circuits and Systems,Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
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