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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
EISBN：
9781461532507
PISBN：
9780792393528
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1993
版次：
1993
作者：
Yusuf Leblebici,Sung-Mo (Steve) Kang
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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作者：
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EISBN：
9789400968424
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
1983
Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits
作者：
Vasant B. Rao,David V. Overhauser,Timothy N. Trick,Ibrahim N. Hajj
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9781461317098
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Springer US
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