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Semiconductor Measurement Technology: Microelectronic Ultrasonic Bonding
出版社:
Washington U.S. Government Printing Office c1974
ISBN:
CNY1.30
作者:
G.Harman George
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
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Harman,George G.
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Wash., D.C. : US GPO, 1974.
出版年:
1974
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作者:
Harman,George G.
出版社:
[Washington] U.S. National Bureau of Standards; [for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. O
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1974
Semiconductor measurement technology : Microelectronic test patterns : An overview
作者:
Buchler,Martin G.
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Wash., U. S. : Dept. of Commerce ; National Bureau of Standards, 1974.
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01679317
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