登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Secondary Ion Mass Spectromtry Sims Ⅲ
出版社：
Berlin,Heidelberg,New York : Springer-Verlag Berlin Heidelberg New York, Springer-Verlag New York He
ISBN：
354011372X
出版年：
1982
作者：
Benninghoven,A.
资源类型：
图书
细分类型：
馆内阅览
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS Ⅱ
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
ISBN：
3540098437
出版社：
Berlin,Heidelberg,New York : Springer-Verlag Berlin Heideberg New York, Springer-Verlag New York Hei
出版年：
1979
Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI : proceedings of the International Conference on Secondary
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
0471918326 747.25
出版社：
Chichester : Wiley, c1988
出版年：
1988
Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI : proceedings of the International Conference on Secondary
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
0471918326
出版社：
Chichester : Wiley, c1988
出版年：
1988
Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : 2nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectr
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
79023997
出版社：
New York : Springer, 1979
出版年：
1979
Secondary ion mass spectrometry : SIMS III : proceedings of the third international conference, Tech
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectroscopy,
ISBN：
038711372X
出版社：
Berlin ; New York : Springer Verlag, 1982.
出版年：
1982
Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osak
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
ISBN：
038713316X
出版社：
Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1984.
出版年：
1984
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借