登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Secondary ion mass spectrometry : SIMS III : proceedings of the third international conference Tech
出版社：
Berlin ; New York : Springer Verlag, 1982.
ISBN：
038711372X
出版年：
1982
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectroscopy,
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI : proceedings of the International Conference on Secondary
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
0471918326 747.25
出版社：
Chichester : Wiley, c1988
出版年：
1988
Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI : proceedings of the International Conference on Secondary
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
0471918326
出版社：
Chichester : Wiley, c1988
出版年：
1988
Secondary ion mass spectrometry SIMS III : proceedings of the 3rd International Conference, Technica
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectroscopy
ISBN：
038711372X
出版社：
Berlin : Springer, 1982
出版年：
1982
Secondary ion mass spectrometry, SIMS IV : proceedings of the 4th international conference, Osada, J
作者：
Benninghoven,A.
ISBN：
038713316X
出版社：
Berlin : Springer, 1984
出版年：
1984
Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osak
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
ISBN：
038713316X
出版社：
Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1984.
出版年：
1984
Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the Second International Conference on Sec
作者：
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry,
出版社：
New York : Springer-Verlag, 1979.
出版年：
1979
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借