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Scanning microscopies 2012 : advanced microscopy technologies for defense homeland security forens
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2012.
ISBN：9780819490568
出版年：2012
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
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2012 IEEE Conference on Technologies for Homeland Security (HST 2012) : Waltham, Massachusetts, USA,
  • 作者：IEEE Conference on Technologies for Homeland Security
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  • 出版社：Piscataway, N.J. : IEEE, c2012.
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Scanning microscopy technologies and applications
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Scanning and force microscopies for biomedical applications
  • 作者：Tamiya,E.
  • ISBN：0819430773
  • 出版社：Bellingham : SPIE, 1999.
  • 出版年：1999