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Scanning microscopies 2013 : advanced microscopy technologies for defense homeland security forens
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2013.
ISBN：9780819495204
出版年：2013
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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Scanning microscopy technologies and applications
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2013.
  • 出版年：2013