登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Introduction to VLSI testing
出版社:
Englewood Cliffs, N.J. : Prentice Hall, c1988.
ISBN:
0134988663
出版年:
1988
作者:
Feugate,Robert J.,
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Introduction to VLSI testing
作者:
Feugate,Robert J.,
ISBN:
0134988663 5.40
出版社:
Englewood Cliffs, N.J. : Prentice Hall, c1988.
出版年:
1988
VLSI testing
作者:
Williams,T. W
ISBN:
0444878904
出版社:
Amsterdam : North-Holland, 1986
出版年:
1986
VLSI testing
作者:
Williams,T. W.
ISBN:
0444878955
出版社:
Amsterdam ; New York : North-Holland ; New York, N.Y., U.S.A. : Sole distributors for the U.S.A. and
出版年:
1986
VLSI : testing & validation techniques
作者:
Reghbati,Hassan K.
ISBN:
0444879471
出版社:
Wash., D. C. : IEEE Computer Society, c1985.
出版年:
1985
Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
作者:
NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
ISBN:
902473794X
出版社:
Dordrecht, Netherlands ; Boston : Kluwer Academic Publishers, c1988.
出版年:
1988
Delay fault testing for VLSI circuits
作者:
Krstić,Angela,
ISBN:
0792382951
出版社:
Boston : Kluwer Academic Publishers, c1998.
出版年:
1998
×
访问借阅管理系统