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Optical opto-atomic and entanglement-enhanced precision metrology : at SPIE opto : 2-7 February 20
出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
ISBN：9781510625105
出版年：2019
作者：Shahriar,Selim M.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
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