登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Optical opto-atomic and entanglement-enhanced precision metrology II : 1-6 February 2020 San Fran
出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2020.
ISBN：9781510633551
出版年：2020
作者：Shahriar,Selim M.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Optical, opto-atomic, and entanglement-enhanced precision metrology : at SPIE opto : 2-7 February 20
  • 作者：Shahriar,Selim M.
  • ISBN：9781510625105
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
  • 出版年：2019
...

Slow light, fast light, and opto-atomic precision metrology X : 30 January-2 February 2017, San Fran
  • 作者：Shahriar,Selim M.
  • ISBN：9781510606791
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2017.
  • 出版年：2017
...

Steep dispersion engineering and opto-atomic precision metrology XI : 29 January - 1 February 2018,
  • 作者：Shahriar,Selim M.
  • ISBN：9781510615816
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2018.
  • 出版年：2018
...

Slow light, fast light, and opto-atomic precision metrology VIII : 8-12 February 2015, San Francisco
  • 作者：Shahriar,Selim M.
  • ISBN：9781628414684
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2015.
  • 出版年：2015
...

Slow light, fast light, and opto-atomic precision metrology IX : 15-18 February 2016, San Francisco,
  • 作者：Shahriar,Selim M.
  • ISBN：9781628419986
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2016.
  • 出版年：2016
...

Quantum sensing, imaging, and precision metrology II : 27 January - 1 February 2024, San Francisco,
  • 作者：Scheuer,Jacob,
  • ISBN：9781510670846
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2024.
  • 出版年：2024