登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Surface characterization for computer disks wafers and flat panel displays : 28 Jan. 1999 San Jos
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
ISBN:
0819430897
出版年:
1999
作者:
Stover,John C.,
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Surface characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays
作者:
Stover,J. C.
ISBN:
0819430897
出版社:
Bellingham : SPIE, 1999.
出版年:
1999
Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel
作者:
Stover,John C.,
ISBN:
0819422509
出版社:
Bellingham : SPIE, 1996.
出版年:
1996
Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel
作者:
Stover,John C.
ISBN:
0819427144
出版社:
Bellingham : SPIE, 1998.
出版年:
1998
Liquid crystal materials, devices, and flat panel displays : 27-28 Jan. 2000, San Jose, Calif.
作者:
Shashidhar,Ranganathan,
ISBN:
0819435732
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c2000.
出版年:
2000
Flatness, roughness, and discrete defects characterization for computer disks, wafers, and flat pane
作者:
Stover,John C.
ISBN:
0819427144
出版社:
Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1998.
出版年:
1998
Flat panel display technology and display metrology : 27-29 Jan. 1999, San Jose, Calif.
作者:
Gnade,Bruce,
ISBN:
0819431079
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
出版年:
1999
×
访问借阅管理系统