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Flatness roughness and discrete defect characterization for computer disks wafers and flat panel
出版社：Bellingham : SPIE, 1996.
ISBN：0819422509
出版年：1996
作者：Stover,John C.,
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel
  • 作者：Stover,John C.
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Flatness, roughness, and discrete defects characterization for computer disks, wafers, and flat pane
  • 作者：Stover,John C.
  • ISBN：0819427144
  • 出版社：Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1998.
  • 出版年：1998
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Surface characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays
  • 作者：Stover,J. C.
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Surface characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays : 28 Jan. 1999, San Jos
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  • ISBN：0819430897
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
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Flexible flat panel displays
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Introduction to flat panel displays
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