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2005 IEEE International Test Conference (ITC) : 8-10 November 2005 Austin TX.
出版社：
Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2005.
ISBN：
0780390385
出版年：
2005
作者：
International Test Conference
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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