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2010 IEEE International Test Conference (ITC 2010) : Austin Texas USA 2-4 November 2010.
出版社：
Piscataway, N.J. : IEEE, c2010.
ISBN：
9781424472062
出版年：
2010
作者：
International Test Conference
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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Piscataway, NJ: IEEE, 2010.
出版年：
2010
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