登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

基于磁阻阵列的埋藏缺陷检测成像方法研究
出版社：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
出版年：2022
作者：汪洋
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

柔性传感器阵列电磁成像检测方法研究
  • 作者：张娜
  • 出版社：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年：2023
...

基于CL成像的IGBT缺陷检测研究
  • 作者：李琰
  • 出版社：中国科学院高能物理研究所
  • 出版年：2021
...

基于机器视觉的缺陷检测与识别方法研究
  • 作者：马天娇
  • 出版年：2018
...

基于图像和点云的工业产品缺陷检测方法研究
  • 作者：王布凡
  • 出版社：中国科学院成都计算机应用研究所
  • 出版年：2024
...

基于红外热波检测的缺陷识别方法研究
  • 作者：张志强
  • 出版年：2011
...

基于漏磁内检测器的管道缺陷数据处理方法
  • 作者：阎洪涛等著
  • 出版社：科学出版社
  • 出版年：2016