基于CL成像的IGBT缺陷检测研究

出版社:中国科学院高能物理研究所
出版年:2021
作者:李琰
资源类型:图书
细分类型:学位论文
相关推荐

基于磁阻阵列的埋藏缺陷检测成像方法研究

  • 作者:汪洋
  • 出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年:2022

基于图像和点云的工业产品缺陷检测方法研究

  • 作者:王布凡
  • 出版社:中国科学院成都计算机应用研究所
  • 出版年:2024

基于机器视觉的金属表面缺陷检测的设计与研究

  • 作者:邵先鑫
  • 出版社:中国科学院沈阳计算技术研究所
  • 出版年:2022