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Testing reliability and application of micro- and nano-material systems : 3-5 March 2003 San Dieg
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c2003.
ISBN:
0819448508
出版年:
2003
作者:
Meyendorf,Norbert.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
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