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2004 IEEE International Workshop on Current & Defect Based Testing : (DBT 2004) April 25 2004 Nap
出版社：
Piscataway, N.J. : IEEE, c2004.
ISBN：
0780389506
出版年：
2004
作者：
IEEE International Workshop on Defect Based Testing
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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