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2005 IEEE International Workshop on Current & Defect Based Testing (DBT 2005) : Palm Springs CA Ma
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2005.
ISBN：
1424400341
出版年：
2005
作者：
IEEE International Workshop on Defect Based Testing
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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