登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

系统级芯片的测试与可测性设计方法研究
出版年：2008
作者：闫永志
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

数模混合芯片可测试性设计研究及其实现
  • 作者：连成洲
  • 出版社：中国科学院大学集成电路学院
  • 出版年：2023
...

特种芯片集成中的可测性设计
  • 作者：舒昶
  • 出版年：2002
...

一款用于多媒体处理的异构多核系统芯片的可测试性设计
  • 作者：刘辉聪
  • 出版年：2014
...

系统芯片SoC的设计与测试
  • 作者：潘中良
  • ISBN：9787030256720
  • 出版社：科学出版社
  • 出版年：2009
...

基于多芯片封装SoC的可测试性设计
  • 作者：罗桂涛
  • 出版社：中国科学院大学集成电路学院
  • 出版年：2022
...

微处理器芯片的指令级测试方法研究
  • 作者：马麟
  • 出版年：2009