数模混合芯片可测试性设计研究及其实现

出版社:中国科学院大学集成电路学院
出版年:2023
作者:连成洲
资源类型:图书
细分类型:学位论文
相关推荐

系统级芯片的测试与可测性设计方法研究

  • 作者:闫永志
  • 出版年:2008

数模混合IC测试系统的研制

  • 作者:王再跃
  • 出版年:1995

基于多芯片封装SoC的可测试性设计

  • 作者:罗桂涛
  • 出版社:中国科学院大学集成电路学院
  • 出版年:2022