2T-EFlash器件遂穿氧化层界面态特性和可靠性研究

2T-EFlash器件遂穿氧化层界面态特性和可靠性研究

出版社：中国科学院大学微电子学院

出版年：2019

作者：朱梦华

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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