相关推荐

SOI功率器件研制及可靠性研究

  • 作者:夏超
  • 出版年:2015

温度冲击条件下PCB无铅焊点可靠性研究

  • 作者:毛书勤
  • 出版年:2015

氮化镓HEMT功率器件制备及其电应力可靠性研究

  • 作者:顾怡恬
  • 出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年:2024

AIGaN/GaN HEMT器件可靠性研究

  • 作者:宋亮
  • 出版年:2018