基于端部特性的IGBT模块封装结构失效的可靠性监测技术关键问题研究

基于端部特性的IGBT模块封装结构失效的可靠性监测技术关键问题研究

出版年：2015

作者：方化潮

资源类型：图书

细分类型：学位论文

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