登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

3D NAND Flash存储密度提升的可靠性关键问题研究
出版社：中国科学院微电子研究所
出版年：2024
作者：贾建权
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

3D NAND Flash存储阵列可靠性机制与优化研究
  • 作者：游开开
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2024
...

3D NAND Flash存储阵列阈值电压分布特性及可靠性研究
  • 作者：贾信磊
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2023
...

3D NAND存储器串列功能单元的可靠性研究
  • 作者：邹兴奇
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2019
...

高密度3DNAND存储器可靠性研究
  • 作者：宋璧若
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2022
...

NAND Flash存储器可靠性技术优化研究
  • 作者：门顶顶
  • 出版社：中国科学院大学微电子学院
  • 出版年：2018
...

高密度存储服务器可靠性设计和实现方法研究
  • 作者：田洪元
  • 出版年：2017