《测量纳米管的量子特性的研究，这是下一代电子产品所必不可少的：成像方法可使研究人员能够测量纳米管的量子电容》

• 来源专题：纳米科技
• 编译者： chenfang
• 发布时间：2016-01-11

来自哈佛大学、利哈伊大学和伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校的一组科学家们正报告用于测量使用微波探针碳纳米管材料的性质的重要方法的发现。他们的研究结果已经发表在ACS纳米在一篇文章中指出：“扫描探针微波反射取向单层碳纳米管：电子结构和量子行为在纳米级的成像”。

研究人员研究了单壁碳纳米管。在这项研究中，科学家们生成一系列平行碳纳米管线，类似于碳纳米管方式将在计算机芯片中使用。每个纳米管为约1纳米宽，在下一代电子中使用，比预期要小十倍。