《基于原位电子显微技术的二维材料表征和操控研究进展》

  • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
  • 编译者: 姜山
  • 发布时间:2017-11-16
  • 人类社会的进步与材料发展息息相关,从石器、青铜器、铁器到半导体材料以及各类新材料的制备与使用,使生产力从手工发展到机械化和信息化,极大提高了人们的生产效率与生活质量。近年来发现的二维材料,如单层石墨烯、黑磷、氮化硼、硫属过渡族金属化合物等,是厚度不到头发丝十万分之一的超薄纳米材料。二维材料不仅超薄,而且具有丰富和优异的物理、化学性质,如石墨烯的力学强度比钢铁还要高100多倍,其导电性也高于金属材料,可应用于制造轻薄的柔性电子产品。利用单层过渡族金属硫属化合物的超薄尺寸和良好的半导体性质,能够提高芯片的性能。实现二维材料的可控制备和性能调控,需要对二维材料及其在外部环境激励下的形貌、晶体结构和化学成分进行原子尺度的表征和动态分析。随着微纳加工精细度的提高,尤其是MEMS技术的发展,原位透射电镜技术可以保证在不破坏电镜原有高真空度和原子级别分辨率的条件下,在狭小的样品腔中引入各种外场和环境,甚至实现多场耦合。通过实时分析样品的微观结构和成分在不同外场和环境中的变化过程,揭示二维材料在外场作用下的演变规律,对二维材料的可控制备、性能调控和应用都具有重要的意义。

    华东师范大学吴幸课题组在Small最新综述里系统分析了原位透射电子显微学表征和操控二维材料的特点与优势,并介绍了近期本领域取得的新进展。原位透射电镜能够精确识别二维材料中小至原子级别的缺陷,并追踪其产生和迁移等演变过程,二维材料的缺陷和界面对其物理、电学、化学等特性有重要影响。原位透射电镜技术能为实现二维材料的高质量制备和性质的精确调控,提供重要的技术支撑。原位透射电子显微技术不仅能分析二维材料中原子级别的结构和成分信息,还能通过施加外场来操控二维材料。本文介绍了透射电镜中常用的外场及环境,包括电子束辐照、热场、力场、电场、液/气体环境等,与二维材料的动态相互作用及演变规律。该技术对促进二维材料在电子信息、能源、功能材料、航空航天、节能环保、生物医药等领域的应用具有重要的意义。最后总结了目前原位电镜应用于二维材料领域所遇到的问题,并展望了其未来的发展方向。

    相关研究成果在线发表在Small(DOI: 10.1002/smll.201604259)上,第一作者为华东师范大学骆晨和王超伦。

相关报告
  • 《深圳先进院二维材料通用制备技术研究获进展》

    • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
    • 编译者:冯瑞华
    • 发布时间:2018-11-26
    • 11 月 17 日,中国科学院深圳先进技术研究院先进材料中心研究员孙蓉团队在二维材料通用制备技术领域取得进展。相关论文“ A universal method for large-yield and high-concentration exfoliation of two-dimensional hexagonal boron nitride nanosheets ”(《一种 高产率、高浓度剥离二维六方氮化硼纳米片的通用方法》 )在线发表在材料领域国际期刊 Materials Today ( 《今日材料》 ) 上。 六方氮化硼 (hBN) 是一种类石墨结构的无机超宽带隙电子材料。从 hBN 粉体剥离出的纳米片 (hBNNS) 具有超宽带隙、高导热、高化学、热稳定性等优异性能,在先进电子封装、高功率器件及 5G 通讯等领域具有重要的应用前景。目前 hBNNS 的剥离方法,包括超声剥离、微机械剥离、球磨剥离等方法普遍存在效率低、浓度小或易污染等缺点,影响了最终的应用效果。 该研究团队发现利用锂离子插层辅助的水热剥离法,在高压水热釜的临界反应条件下,通过选择与 hBN 剥离能相匹配的极性溶剂和高速搅拌,可以将微米级块体材料剥离成几个原子层厚的二维 hBNNS ,产率高达~ 55% ,同时 hBNNS 分散液浓度达到~ 4.13mg/mL 。通过 AFM 和拉曼表征,发现得到的 hBNNS 厚度在 10 个原子层以内。同时,研究团队也将这种剥离手段应用到其他常见二维材料纳米片的制备中,并成功得到厚度为 1~3nm 的石墨烯和二硫化钼纳米片。至此,研究团队成功实现了一种通用型、基于水热法剥离制备二维纳米材料的有效方法。文章第一作者为先进材料中心博士王宁,深圳先进院为论文第一单位。 论文得到科技部重大研究专项、国地联合先进电子封装材料工程实验室、中国科学院先导专项、广东省重点实验室、广东省产学研项目、 SIAT CAS-CUHK 高密度电子封装与器件实验室的支持。
  • 《深圳先进院超薄二维材料力学性质表征研究获进展》

    • 来源专题:中国科学院文献情报制造与材料知识资源中心 | 领域情报网
    • 编译者:冯瑞华
    • 发布时间:2018-09-20
    • 中国科学院深圳先进技术研究院纳米调控与生物力学研究室同中国科学院深圳先进技术研究院喻学锋研究员课题组和罗茜研究员课题组密切合作,在二维材料力学性质表征上取得重要进展。该研究为精确表征二维材料(以MoS2为例)的力学性质提供了新的途径。相关成果以Mapping the elastic properties of two-dimensional MoS2 via bimodal atomic force microscopy and finite element simulation(通过双频原子力显微镜和有限元模拟确定二维材料MoS2的弹性性质)为题,在线发表在Nature合作期刊NPJ Computational Materials (计算材料学,IF=8.941)上,论文第一作者为纳米调控与生物力学研究室博士生李宇豪。 △(a)双频原子力显微镜示意图;(b)SiO2基底和单层MoS2的形貌;(c)SiO2基底和单层MoS2的面内杨氏模量;(d)SiO2基底和单层MoS2的面内杨氏模量直方图。 自2004年K.S. Novoselov等发现二维材料以来,二维材料的研究如火如荼,从经典的力学、电学、光学、磁学等性质到新颖的自旋和谷电子学以及量子效应都有十分丰硕的研究成果。目前,表征二维材料力学性质往往把超薄二维材料悬空于微米尺寸的孔上,采用压痕实验方法并结合经典的连续介质力学薄膜模型来确定二维材料的力学性质。然而由于悬空实验的不可控,此种方法带来了较大的实验误差。与此同时,随着扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)技术的飞快发展,双频原子力显微镜(AM-FM)为表征材料的力学性质提供了十分有力的研究手段。此种方法的出现为二维材料力学性质的研究提供了新思路。 团队利用经典的机械剥离方法,制作出了大片、高质量的单层、多层MoS2样品。使用双频原子力显微镜(AM-FM),精确测定了超薄单层MoS2(0.8nm)和SiO2基底的耦合力学性质。随后科研人员对其进行有限元模拟,量化了SiO2基底的影响,最终得到单层MoS2的面内杨氏模量为265±13Gpa,不确定性小于5%。由于双层MoS2的面内杨氏模量与单层的面内杨氏模量无法区分开来,对此科研人员用第一性原理计算作了进一步验证。这项工作第一次得到了面内杨氏模量的区域成像,且相比于经典的纳米压痕方法,得到的结果具有很更高的空间分辨率和更小的不确定性。同时,由于AM-FM表征技术具有小变形、小测试力,不会对样品产生破坏。 此种方法表征二维材料的力学性质大大简化了样品制备以及表征的难度,具有广阔的研究应用前景。 上述工作得到国家重点研发计划纳米科技重点专项、国家自然科学基金和深圳市科技创新委员会等项目资助。